國際先進的質量管理技術與方法（doc 11).doc

一、 CUSUM（累積和）控製圖和EWMA（指數加權滑動平均）控製圖
　　隨著SPC控製理論中常規控製圖的普遍使用，其缺點也逐漸顯現出來，其中一條就是對過程的小偏移不靈敏。而CUSUM和EWMA則可解決類似問題。　
　　1、 CUSUM控製圖的設計思想就是對數據的信息加以積累。CUSUM控製圖分別可用於計量性數據（正態分布），不合格品數（泊鬆分布變量），不和格品率（二項分布變量）。CUSUM控製圖的理論基礎是序貫分析原理中的序貫概率比檢驗，這是一種基本的序貫檢驗法。該控製圖通過對信息的累積，將過程的小偏移累加起來，達到放大的效果，提高檢測過程小偏移的靈敏度。 　
　　2、 EWMA控製圖中控製統計量同樣利用了曆史數據，且該控製圖可以對不同階段的數據取不同的權重，距今越近的數據權重越大，距今越遠，數據權重越小。EWMA控製圖設計的本質就是尋找最優參數（λ，K）組合的過程，所依據的原則是：對給定的穩態ARL（0），使過程出現設定偏移量的偏移時具有最小失控ARL。　　

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