SPC培訓教材-應用型(PPT 73頁)

主要內容
一、SPC的起源和發展
1、控製圖的起源
2、控製圖的發展
二、基本的統計概念
1、數據的種類
2、波動（變差）的概念：
（1）波動的原因：
（2）普通原因、特殊原因
（3）波動的種類:
4、“統計控製狀態”與“過渡調整”
5、基本統計量說明
規格界限和控製界限
1、建立X-R控製圖的四步驟：
A3、計算每個子組的均值和極差R：
A4、選擇控製圖的刻度：
A5、將均值和極差畫到控製圖上：
B3、在控製圖上畫出平均值和極差控製限的控製線
控製圖的判異原則
C6、重新計算控製限
C7、延長控製限繼續進行控製
D1、計算過程的標準偏差：
D2、計算過程能力：
範例：過程能力計算
課堂練習：
過程性能指數Ppk
初始過程能力研究
1、建立P控製圖的步驟：
A1選擇子組容量、頻率、數量
A2計算每個子組內的不合格品率
A3選擇控製圖的坐標刻度
A4將不合格品率描繪在控製圖上
計算平均不合格率及控製限
畫線並標注
C1、分析數據點，找出不穩定的證據
C2、尋找並糾正特殊原因
D1、計算過程能力
控製圖的益處
使用控製圖的注意事項
層別的說明
尋找並糾正特殊原因
改善過程能力
END

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